Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej

Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej
ISBN
978-83-7143-943-8
Rok wydania: 
2010
Wydanie: 
I
Status: 
nakład wyczerpany
Strony: 
172

Tematyka książki dotyczy metrologii i inżynierii pomiarowej, które obejmują teorie i praktykę pomiarów, niezależnie od ich rodzaju i dokładności. Przedstawiono przykłady planowania i realizacji zadań pomiarowych. Zamieszczono wybrane elementy metrologii prawnej. Podano informacje dotyczące sposobu zapisu wielkości, wartości i jednostek zgodnie z zaleceniami SI. Omówiono specyfikę pozyskiwania sygnałów pomiarowych, sygnały optyczne i systemy optoelektroniczne oraz poszczególne etapy analizy niedokładności pomiarów.